PATENTTI- JA REKISTERIHALLITUS
FI-EP-patentit
Hakemuksen tiedot / Application data:
Patenttinro
Patent No.:
EP3062082
Hakemuksen tyyppi:
Kind of Application:
European patents
Hakemusnumero:
Application Number:
EP15156546.2
Hakemuksen alkupvm
Effective (application) date :
25.2.2015
EPO:n myöntämispvm:
EPO Date of Grant:
18.4.2018
Kuulutuspvm:
Date of Advertisement in FI Official Gazette:
Tila:
Legal Status:
B1/B2;Ei voimaansaatettu Suomessa - No B1/B2 translation
Maksettuja vuosimaksuja:
Annuities Paid:
4 kpl
IPC-luokat:
IPC Class:
G01N   1/28           (2006.01)
H01J  37/26           (2006.01)
H01J  37/20           (2006.01)
G01N   1/42           (2006.01)
Hakija/haltija:
Applicant/Owner:
FEI COMPANY
Asiamies:
Patent agent:
 
Nimitys
Title :     
Preparation of sample for charged-particle microscopy
   
Katso:
View:
Toimenpidetiedot
Event History
Erääntyvät maksut (alle 6 kk)
Fees due (within 6 months)
esp@cenet